單芯片集成電路的檢測(cè)技術(shù)

發(fā)布日期：2020-07-26

單芯片集成電路消檢電檢技術(shù)

首先，以確保電源電壓正常。通過接地電源銷與銷之間電壓表測(cè)量，以查看是否電源電壓，如5V常規(guī)。

的下一個(gè)步驟是消檢電檢復(fù)位引腳電壓正常。測(cè)定按復(fù)位鍵和釋放復(fù)位按鈕的電壓值，以查看是否正確。

，然后消檢電檢晶體振動(dòng)一般晶體引腳示波器波形是否視圖中使用示波器探頭應(yīng)當(dāng)注意，“X10”簡(jiǎn)檔。

另一種方法是測(cè)量IO端口的復(fù)位狀態(tài)下，按水平并保持復(fù)位鍵，然后測(cè)量IO端口（除了連接無(wú)外部上拉端口P0）電壓，以看是否高電平，如果不高，主要是因?yàn)樗У臎]有啟動(dòng)。

還要注意的地方，如果片內(nèi)ROM，然后（在大多數(shù)情況下，所以現(xiàn)在擴(kuò)展ROM的很少有用外），一定要EA引腳為高電平，否則會(huì)程序運(yùn)行周圍的情況出現(xiàn)。有時(shí)候，你可以使用模擬器，但由于EA管腳拉到?jīng)]有理由不被燒毀成片，經(jīng)常（當(dāng)然，水晶是不是唯一的原因的啟動(dòng)）。

消檢電檢上述各點(diǎn)，一般到故障排除。如果系統(tǒng)不穩(wěn)定，有時(shí)造成的，因?yàn)楦F電源濾波的。微控制器電源引腳與接地銷之間被連接到一個(gè)電容器0.1uF的將得到改善。如果電源濾波電容器不是，則FO由較大需要電解濾波電容器，例如llowed的220uF / 16V是。系統(tǒng)不穩(wěn)定的面，并且電容器可以嘗試（更靠近芯片越好）。

的其他技術(shù)：

如圖1所示，消檢電檢微控制器晶體腳負(fù)載電壓差

當(dāng)操作載帶是關(guān)于工作電壓的一半，如果負(fù)載移除時(shí)測(cè)試，工作電壓如3V，那么現(xiàn)在是時(shí)候工作了一個(gè)半腳會(huì)出現(xiàn)1.5V，有可能是另一個(gè)1.5?3V，如果你不工作了近兩個(gè)腳3V，但不是絕對(duì)的！

如圖2所示，以查看是否水晶振動(dòng)，以確定正確的電源接通電路，晶體電壓為約1.0V，我看到的-小0.12V的，其中，如果所述twoPressure一個(gè)引腳不受影響，然后是重新研磨的重sistance測(cè)量，如果沒有阻擋的值，晶體短路，如果在功率的情況下施加的電功率，則該晶體被廢棄。

如圖3所示，用示波器針晶體振蕩器來(lái)測(cè)量。

消檢電檢是否正常正弦波，正常頻率？

晶體12M，而方波1M ALE引腳輸出的同步。